高低温冲击试验箱广泛适用于电子元器件的安全性能测试,提供可靠性试验和产品筛选试验,同时通过这一装备的试验,能够显著提高产品的可靠性并实现对产品质量的有效控制。
在两种型号中,二箱式设计上部为高温箱,下部为低温箱,两个箱体通过样品架连接,并通过气动系统在两个箱体之间进行切换。
而三箱式设计则采用了静置的冷热交替冲击方式,主要应用于电子零组件测试、半导体、电子线路板、金属化学、材料等测试设备。在这种设计中,试验箱的下部为低温蓄冷区,上部为高温蓄热区,而试件(待测品)则置于试验箱中部。在高温冲击时,上风门打开,形成高温内循环;而在低温冲击时,上风门关闭,下风门打开,形成低温内循环。此设计的独特之处在于试件(待测品)静止不动,避免了试件移动可能带来的各种不便。
技术参数:
工作室温度范围:预热箱RT~100℃ (150℃)
预冷箱-20℃、-40℃、-60℃、-70℃ ~0℃
温度冲击范围:-20℃、-40℃、-60℃、-70℃ ~100℃
温度波动度:±0.5℃
温度均匀度:±2.0℃
温度偏差:±2.0℃
设备电源:三相五线制AC380±10%,50±0.5Hz
设备功率:25KW/30KW/45KW/60KW
技术特点:
1、能够测试产品从高温状态直接放入低温水中的性能变化。
2、产品暴露在高温室和低温室的极限温度环境中、产品在高低温室之间的往复温度冲击,以及产品进入低温水中的极速温差冲击,均能够加速产品的老化进程,从而能够更快速的测试产品使用寿命,达到高加速寿命的试验目的。
3、可以在水槽内的水中添加工业盐,使液态水的温度达到零下4℃,提升测试等级。
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