高低温冲击试验箱适用于电子、电工产品和其他军用设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验,也是筛选电子元器件初期故障的得力助手。
性能指标:
实验箱冲击温度:高温 +60~150℃(固定)
低温 A:(-10~ -40℃) B:(-10~ -55℃)D:( -10~ -65℃)(可选择其中一个低温配高温)
高温储温箱高温范围可达:+60 ~200℃.
低温储温箱低温范围可达:-10℃~-75℃
高低温转换时间:≤10S
风门启动时间:≤3S
高低温恢复时间:3~5min(非线性空载下)
预冷区降温速度:≥2℃/min(非线性)
预热区升温速度:≥3℃/min(非线性)
控制精度:温度±0.2℃(指控制器设定值和控制器实测值之差)
温度波动度:≤0.5℃(温度波动度为中心点实测高温度和低温度之差的一半)
温度均匀度:≤2.0℃(温度均匀度为每次测试中实测高温度和低温度之差的算术平均值)
技术特点:
通过为测试箱的蓄冷片增加换热环,进一步加强了测试箱的冷冲击能力。
环仪仪器所制造的高低温冲击试验箱,高质感外观,机体采圆弧造型,表面经雾面条纹处理,采用数控机床加工成型,并采用平面无反作用把手,操作容易简便,安全可靠,造型美观大方、新颖。