半导体冷热冲击试验箱（半导体材料温度冲击箱）

芯片，又称微芯片，是集成电路的载体。半导体冷热冲击试验箱是专门用于对半导体元器件进行温度循环测试的设备。芯片生产过程中需要对其进行冷热冲击试验。一般情况下，民用芯片的正常温度范围是0℃-70℃，军用芯片性能更高，正常工作温度范围是-55℃-125℃。

冷热冲击试验箱(高低温冲击试验箱)可以为电子芯片提供几秒内温度骤变的环境，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害。冷热冲击试验箱经常被用来做适应性试验及对电子元器件的安全可靠性试验和产品筛选。

规格参数：

温度范围：A:-40~+150 ℃ B:-50~+150℃ C:-60~+150℃

高温室：预热温度范围，RT+20℃~200℃

升温时间：+20℃~+200℃约30min

低温室：预冷温度范围，RT~-80℃

降温时间：+20℃~-80℃约80min

实验室冲击：温度均匀度±2.0℃

产品特点：

1. 试验系统结构设计先进合理，制造工艺规范，外观美观、大方，维护保养方便。

2. 零部件的配套与组装匹配性好，主要功能元器件均采用具有水平的件，提高了产品的安全性和可靠性，能保证使用者长时间、高频率的使用要求。

3. 设备正常运行所需的附带条件已有配备，买方只需提供动力电力和满足要求的工作环境即可。

售后服务：

为用户提供所需的使用、维护咨询；

及时向用户提供易损件和备件；

为使用者派出技术人员对其设备使用、维护进行现场指导；

从验收之日起12个月质量保证期内，在需方遵守保管、使用和安装规则的条件下，因试验箱制造质量问题不能正常工作时，本公司负责免费保修。