应力筛选试验箱温度计算方法（应力筛选试验计算公式）

环境应力筛选是通过施加一定的环境应力，使产品的潜在缺陷以故障形式暴露并剔除，使得产品在筛选后达到浴盆曲线的恒定故障率阶段，在试验过程中，可以使用ESS环境应力筛选试验箱来做应力筛选试验。

应力筛选试验箱温度计算公式来自GJB/Z34，英文原版来自MIL-HDBK-344A，分为恒定高温筛选和温度循环筛选两种。

1. 恒定高温筛选强度

公式：SS=1-exp [-0.0017(R+0.6)^0.6t]

式中：R—高温与室温(一般取25℃)的差值；t—恒定高温持续时间(h)；

例：用85℃对某一元器件进行48H的筛选，则其筛选强度为:61.6% =1- EXP[-0.0017*(60+0.6)^0.6*48]；注意：这里R=85-25=60，而不是直接用85代入计算，论坛上的计算有误；

分析：若上例中如果产品的潜在缺陷对于恒定高温敏感，85度&48小时的测试仅有61.6%的概率暴露出故障，若要提高概率，可以通过增加温度或者增加测试时间。这里算了下，若温度不变，将测试时间增加到100小时可以有91.4%的概率暴露故障，实际情况根据不同需要更改时间或温度；

注意：选用此方案时，关机情况下温度上限不能超过产品的存储温度上限，开机时温度不能超过产品的工作温度上限。

2、温度循环的筛选强度

公式：SS=1-exp{-0.0017(R+0.6)0.6[Ln(e+v)]^3N}

式中：R—温度循环的变化范围（℃）；V—温变率（℃/min）；N—温度循环次数，e为自然对数的底数2.71828…..;

例：用60℃到－40℃以10℃/min的速率做15次循环，则对应的筛选强度为：99.87%=1-EXP{-0.0017*(100+0.6)^0.6*[ln(2.71828+10)]^3)*15}；

分析：上例中如果产品的潜在缺陷对于温度循环敏感，85度&48小时的测试仅有61.6%的概率暴露出故障，若要提高概率，可以通过增加温度或者增加测试时间。这里算了下，若温度不变，将测试时间增加到100小时可以有91.4%的概率暴露故障，实际情况根据不同需要更改时间或温度；

注意：论坛中有描述每个循环20分钟，这里不建议选取，因为这不是温度冲击测试，通常在做温度循环筛选时，需要在每个温度点保持到产品温度稳定，一般电子产品选择2小时左右，也即一个循环需差不多4小时。

应力筛选试验箱的温度计算需要考虑多种因素，因此其计算公式较为复杂。一般来说，可以根据热传导方程、箱体内空气的对流和辐射传热来计算试验箱内部的温度分布。